商品介绍

德国Mahr 表面粗度仪

Mahr PS10 掌上型表面粗度仪
 产品说明

产品特点:

  • 小而轻且方便携带使用。
  • 背光式4.3"TFT触控式显示萤幕。
  • 操作简单(同智慧型手机)。
  • 可拆卸式驱动器及表面粗糙度标准片,提高使用灵活度。
  • 可於显示画面设定参数快捷功能键。
  • 拥有31种参数。
  • 数据保存在装置中,档案格式:TXT、X3P、CSV和PDF文件。
  • 自我校正及补正功能。
  • 拥有DIN-ISO / JIS / ASME / MOTIF 标准供选择。
  • MAHR特有切断值自动设定功能,以确保量测评估数值之准确性。
  • 可自由输入取样长度。
  • 可做工差设定,并判定显示合格/不合格。
  • 可锁定设定,或利用密码保护。
  • 内部拥有时间与日期设定。
  • 内建记忆体,可储存约500,000笔数据或3,900个图型或1,500份PDF文件。
  • 资料传输可透过USB、RS232或microSD卡与电脑沟通。
  • 内建充电式电池。
  • 公英制两用。


 
 产品规格

规格:

  • 感测范围:350 μm。
  • 切断值:0.25 / 0.8 / 2.5mm ( 0.01" / 0.03" / 0.10" )或自动判断设定。
  • 量测行程:1.5 / 4.8 / 15 mm ( 0.06" / 0.192" / 0.6" )或自动判断设定。
  • 评估行程:1.25 / 4.0 / 12.5 mm。
  • 量测参数:
    • DIN/ISO- Ra, Rq, Rz, Rmax, Rp, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr, RSm, Rsk, CR, CF, CL, R, AR, Rx。
    • JIS- Ra, Rq, Ry (equiv. to Rz), RzJIS, tp (equiv. to Rmr), RSm, S。
    • ASME- Rp, Rpm, RPc, Rsk, tp (equir. to Rmr)。
    • MOTIF- R, AR, Rx, CR, CF, CL。
  • 量测标准:ISO, JIS, ASME, MOTIF ( 可选择 )。
  • 量测样本数:1-16 ( 可设定 )。




Mahr M300C表面粗度仪

产品说明
  • 内藏式感热式印表机,可列印量测结果及图形。
  • 3.5" LCD高解析彩色液晶萤幕显示,功能键操作,简单明了。
  • 公英制两用。
  • 15 种操作语言,包含中文/ 英文 / 日文。
  • 内建充电式电池,即时显示电池使用状态。
  • 可迅速精确地校准工件。
  • 密码保护功能。
  • USB输出,可直接连结 PC。
  • 可输出量测时间或日期。
  • 最大可记忆40,000笔量测数据,以及30个图形。 
 
 产品规格
  • 感测范围:350 μm
  • 切断值[cut-off]:0.25, 0.8, 2.5 mm
  • 量测行程[DIN/ ISO/ ASME/ JIS]:1.75, 5.6, 17.5 mm
  • 量测行程[MOTIF]:1, 2, 4, 8, 12, 16mm
  • 评估样本数:1 – 5 可设定
  • 参数种类: 
    1. DIN/ISO―Ra, Rq, Rz, Rmax, Rp, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, A1,A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr, RSm, RSK, R, AR, Rx, W, CR, CF, CL
    2. JIS―Ra , Rq, Ry(Rz), Rp, Rv, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rt, tp(Rmr), Rsm, Rsk, S, R, AR, Rx, W, CR, CF, CL
    3. ASME―RpA, Rpm, Rmr, RSm, Rsk
    4. MOTIF―R, AR, Rx, W, CR, CF, CL
  • 图形解析度:8 nm、16nm、32nm[自动切换]
  • 机器尺寸[M300显示器]:190mm x 170mm x 75 mm
  • 机器重量 : M300显示器=1000g 






Mahr M400C 表面粗度仪


产品说明
  • 内藏式印表机,可列印量测结果及图形。
  • LCD 液晶萤幕显示,功能键操作,简单明了。
  • 公英制两用。
  • 15 种操作语言,包含中文/ 英文 / 日文。
  • Skidless测头量测系统。
  • 测头系统可自动定位归零。
  • 测头保护设计,探针磁性定位可快速更换探针。
  • 内建充电式电池,即时显示电池使用状态,可迅速精确地校准工件。
  • 密码保护功能。
  • USB 输出,可直接连结 PC。
  • 自动设定切断值及量测行程功能。
  • 除标准量测行程外,可自行设定量测行程1 , 4 , 8 , 12 , 16 mm。 
 
 产品规格
  • 感测范围:250 μm
  • 切断值[cut-off]:0.25 / 0.8 / 2.5 mm /自动设定
  • 量测行程:1.75 / 5.6 / 17.5 mm /自动设定 /自由设定
  • 驱动器行程:26 mm
  • Z轴调整范围:7.5 mm (马达驱动)
  • 驱动器倾斜修正调整范围:1.5°
  • 评估样本数:1~5 可设定
  • 参数种类: 
    1. DIN/ISO – Ra, Rq, Rz, Rmax, Rp, Rv, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2,A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr (3x), HSC, RSm, Rsk, Rdc, Rdq, Rku, Pa, Pt, Pmr (3x), Pdc, Wa, Wq, Wt, WSm, Wsk
    2. JIS – Ra , Rz, RzJIS94, Sm, S
    3. ASME – RpA, Rpm
    4. MOTIF – R, AR, W, AW, Rx, Wx, Wte, CR, CL, CF, NR, CRX, NW, CPM
  • 解析度:8 nm / 0.8 nm
  • 量测力:0.7 mN
  • 防水保护等级:IP50
  • 操作温度:5℃ ~40℃
  • 机器尺寸:190 (L) x 170 (W) x 75 (H) mm
  • 机器重量:1000 g
  • 驱动器重量:900 g 









Mahr XR20表面粗度仪

产品说明
  • 拥有超过80种R、P、W Profile参数可供选择,并依据ISO/JIS或MOTIS[ISO 12085]标准。
  • Ls滤波可以用当下标准、关闭、也可自由输入。
  • 即时监测是否有超出公差。
  • 可程式化以加速量测。
  • 拥有自我判断选择适当切断值於量测长度[MAHR 专利]
  • 仪器校正提醒功能。
  • 拥有使用者权限管理系统。
  • 拥有多工量测功能。 







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Mahr CWM100 奈米级非接触表面粗度仪



产品说明

特色:

  • 在量测技术里,光学应用在半导体业是非常需要3D地形分析[面积量测]。软、薄壁材料 也需要非接触量测。此外,表面的要求也愈来愈高,使得对量测系统的分辨率和量测精度也大大提升。
  • 高精度的非接触表面量测结构。
  • 高精度奈米级的分辨率。
  • 聚焦传感器主要应用为粗且黑的小零件表面结构。
  • 白光干涉仪主要应用在量测玻璃、光学表面细腻有光泽的表面结构。
  • 适用於:
    ◎ 研发、品质管制
    ◎ 材料工程和工程机械
    ◎ 医药
    ◎ 光学产业
    ◎ 半导体产业 

 
 产品规格
  • WLI[白光干涉仪]
  • 光源:505nm高效能LED
  • 量测范围:最大至4mm[取决於镜头]
镜头 20 X 40 X
Numerical aperture 0.4 0.55
工作高度 (mm) 4.7 3.4
视野面积 (μm x μm) 890 X 655 356 X 267
解析度:横向 (μm) 1.16 0.463
解析度:轴向 (nm) 0.1 0.1


  • CFM[共焦显微镜]
  • 光源:505nm高效能LED
  • 量测范围:超过800μm[取决於Z轴解析度和镜头]
镜头 20 X 50 X 100 X
Numerical aperture 0.75 0.8 0.9
工作高度 (mm) 1.0 1.0 1.0
视野面积 (μm x μm) 890 X 655 356 X 267 178 X 134
解析度:横向 (μm) 1.16 0.463 0.231
解析度:轴向 (nm) 3 2 1