商品介紹

德國Mahr 表面粗度儀

Mahr PS10 掌上型表面粗度儀
 產品說明

產品特點:

  • 小而輕且方便攜帶使用。
  • 背光式4.3"TFT觸控式顯示螢幕。
  • 操作簡單(同智慧型手機)。
  • 可拆卸式驅動器及表面粗糙度標準片,提高使用靈活度。
  • 可於顯示畫面設定參數快捷功能鍵。
  • 擁有31種參數。
  • 數據保存在裝置中,檔案格式:TXT、X3P、CSV和PDF文件。
  • 自我校正及補正功能。
  • 擁有DIN-ISO / JIS / ASME / MOTIF 標準供選擇。
  • MAHR特有切斷值自動設定功能,以確保量測評估數值之準確性。
  • 可自由輸入取樣長度。
  • 可做工差設定,並判定顯示合格/不合格。
  • 可鎖定設定,或利用密碼保護。
  • 內部擁有時間與日期設定。
  • 內建記憶體,可儲存約500,000筆數據或3,900個圖型或1,500份PDF文件。
  • 資料傳輸可透過USB、RS232或microSD卡與電腦溝通。
  • 內建充電式電池。
  • 公英制兩用。


 
 產品規格

規格:

  • 感測範圍:350 μm。
  • 切斷值:0.25 / 0.8 / 2.5mm ( 0.01" / 0.03" / 0.10" )或自動判斷設定。
  • 量測行程:1.5 / 4.8 / 15 mm ( 0.06" / 0.192" / 0.6" )或自動判斷設定。
  • 評估行程:1.25 / 4.0 / 12.5 mm。
  • 量測參數:
    • DIN/ISO- Ra, Rq, Rz, Rmax, Rp, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr, RSm, Rsk, CR, CF, CL, R, AR, Rx。
    • JIS- Ra, Rq, Ry (equiv. to Rz), RzJIS, tp (equiv. to Rmr), RSm, S。
    • ASME- Rp, Rpm, RPc, Rsk, tp (equir. to Rmr)。
    • MOTIF- R, AR, Rx, CR, CF, CL。
  • 量測標準:ISO, JIS, ASME, MOTIF ( 可選擇 )。
  • 量測樣本數:1-16 ( 可設定 )。




Mahr M300C表面粗度儀

產品說明
  • 內藏式感熱式印表機,可列印量測結果及圖形。
  • 3.5" LCD高解析彩色液晶螢幕顯示,功能鍵操作,簡單明瞭。
  • 公英制兩用。
  • 15 種操作語言,包含中文/ 英文 / 日文。
  • 內建充電式電池,即時顯示電池使用狀態。
  • 可迅速精確地校準工件。
  • 密碼保護功能。
  • USB輸出,可直接連結 PC。
  • 可輸出量測時間或日期。
  • 最大可記憶40,000筆量測數據,以及30個圖形。 
 
 產品規格
  • 感測範圍:350 μm
  • 切斷值﹝cut-off﹞:0.25, 0.8, 2.5 mm
  • 量測行程﹝DIN/ ISO/ ASME/ JIS﹞:1.75, 5.6, 17.5 mm
  • 量測行程﹝MOTIF﹞:1, 2, 4, 8, 12, 16mm
  • 評估樣本數:1 – 5 可設定
  • 參數種類: 
    1. DIN/ISO─Ra, Rq, Rz, Rmax, Rp, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, A1,A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr, RSm, RSK, R, AR, Rx, W, CR, CF, CL
    2. JIS─Ra , Rq, Ry(Rz), Rp, Rv, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rt, tp(Rmr), Rsm, Rsk, S, R, AR, Rx, W, CR, CF, CL
    3. ASME─RpA, Rpm, Rmr, RSm, Rsk
    4. MOTIF─R, AR, Rx, W, CR, CF, CL
  • 圖形解析度:8 nm、16nm、32nm﹝自動切換﹞
  • 機器尺寸﹝M300顯示器﹞:190mm x 170mm x 75 mm
  • 機器重量 : M300顯示器=1000g 






Mahr M400C 表面粗度儀


產品說明
  • 內藏式印表機,可列印量測結果及圖形。
  • LCD 液晶螢幕顯示,功能鍵操作,簡單明瞭。
  • 公英制兩用。
  • 15 種操作語言,包含中文/ 英文 / 日文。
  • Skidless測頭量測系統。
  • 測頭系統可自動定位歸零。
  • 測頭保護設計,探針磁性定位可快速更換探針。
  • 內建充電式電池,即時顯示電池使用狀態,可迅速精確地校準工件。
  • 密碼保護功能。
  • USB 輸出,可直接連結 PC。
  • 自動設定切斷值及量測行程功能。
  • 除標準量測行程外,可自行設定量測行程1 , 4 , 8 , 12 , 16 mm。 
 
 產品規格
  • 感測範圍:250 μm
  • 切斷值﹝cut-off﹞:0.25 / 0.8 / 2.5 mm /自動設定
  • 量測行程:1.75 / 5.6 / 17.5 mm /自動設定 /自由設定
  • 驅動器行程:26 mm
  • Z軸調整範圍:7.5 mm (馬達驅動)
  • 驅動器傾斜修正調整範圍:1.5°
  • 評估樣本數:1~5 可設定
  • 參數種類: 
    1. DIN/ISO – Ra, Rq, Rz, Rmax, Rp, Rv, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2,A1, A2, Vo, Rt, R3z, RPc, Rmr (3x), HSC, RSm, Rsk, Rdc, Rdq, Rku, Pa, Pt, Pmr (3x), Pdc, Wa, Wq, Wt, WSm, Wsk
    2. JIS – Ra , Rz, RzJIS94, Sm, S
    3. ASME – RpA, Rpm
    4. MOTIF – R, AR, W, AW, Rx, Wx, Wte, CR, CL, CF, NR, CRX, NW, CPM
  • 解析度:8 nm / 0.8 nm
  • 量測力:0.7 mN
  • 防水保護等級:IP50
  • 操作溫度:5℃ ~40℃
  • 機器尺寸:190 (L) x 170 (W) x 75 (H) mm
  • 機器重量:1000 g
  • 驅動器重量:900 g 









Mahr XR20表面粗度儀

產品說明
  • 擁有超過80種R、P、W Profile參數可供選擇,並依據ISO/JIS或MOTIS﹝ISO 12085﹞標準。
  • Ls濾波可以用當下標準、關閉、也可自由輸入。
  • 即時監測是否有超出公差。
  • 可程式化以加速量測。
  • 擁有自我判斷選擇適當切斷值於量測長度﹝MAHR 專利﹞
  • 儀器校正提醒功能。
  • 擁有使用者權限管理系統。
  • 擁有多工量測功能。 







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Mahr CWM100 奈米級非接觸表面粗度儀



產品說明

特色:

  • 在量測技術裡,光學應用在半導體業是非常需要3D地形分析﹝面積量測﹞。軟、薄壁材料 也需要非接觸量測。此外,表面的要求也愈來愈高,使得對量測系統的分辨率和量測精度也大大提升。
  • 高精度的非接觸表面量測結構。
  • 高精度奈米級的分辨率。
  • 聚焦傳感器主要應用為粗且黑的小零件表面結構。
  • 白光干涉儀主要應用在量測玻璃、光學表面細膩有光澤的表面結構。
  • 適用於:
    ◎ 研發、品質管制
    ◎ 材料工程和工程機械
    ◎ 醫藥
    ◎ 光學產業
    ◎ 半導體產業 

 
 產品規格
  • WLI﹝白光干涉儀﹞
  • 光源:505nm高效能LED
  • 量測範圍:最大至4mm﹝取決於鏡頭﹞
鏡頭 20 X 40 X
Numerical aperture 0.4 0.55
工作高度 (mm) 4.7 3.4
視野面積 (μm x μm) 890 X 655 356 X 267
解析度:橫向 (μm) 1.16 0.463
解析度:軸向 (nm) 0.1 0.1


  • CFM﹝共焦顯微鏡﹞
  • 光源:505nm高效能LED
  • 量測範圍:超過800μm﹝取決於Z軸解析度和鏡頭﹞
鏡頭 20 X 50 X 100 X
Numerical aperture 0.75 0.8 0.9
工作高度 (mm) 1.0 1.0 1.0
視野面積 (μm x μm) 890 X 655 356 X 267 178 X 134
解析度:橫向 (μm) 1.16 0.463 0.231
解析度:軸向 (nm) 3 2 1